Sill, Frank (Autor)
Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-640-22597-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 224 S. |
| Kopierschutz | ohne Kopierschutz |
| Dateigröße | 2144 Kbytes |