Oku, Takeo (Autor)

Structure Analysis of Advanced Nanomaterials. Vol.1

Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

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Beschreibung

High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.

Produktdetails

ISBN/GTIN 978-3-11-030472-5
Erscheinungsjahr 2014
Seitenzahl 168 S.
Einbandart gebunden
Format 17,5 x 1,3 x 24,4 cm
Gewicht 0,496 kg

Produktsicherheit

Herstellername: De Gruyter
Herstelleradresse: Walter de Gruyter GmbHGenthiner Straße 1310785 Berlin / Deutschland
E-Mail-Adresse: productsafety@degruyterbrill.com
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