Oku, Takeo (Autor)
Structure Analysis of Advanced Nanomaterials. Vol.1
Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy

Beschreibung
High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-3-11-030472-5 |
---|---|
Erscheinungsjahr | 2014 |
Seitenzahl | 168 S. |
Einbandart | gebunden |
Format | 17,5 x 1,3 x 24,4 cm |
Gewicht | 0,496 kg |
Produktsicherheit
Herstellername: De Gruyter
Herstelleradresse: Walter de Gruyter GmbHGenthiner Straße 1310785 Berlin / Deutschland
E-Mail-Adresse: productsafety@degruyterbrill.com
Herstelleradresse: Walter de Gruyter GmbHGenthiner Straße 1310785 Berlin / Deutschland
E-Mail-Adresse: productsafety@degruyterbrill.com