Shen, Ruijing (Autor)
Tan, Sheldon X.-D. (Autor)
Yu, Hao (Autor)
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4614-0788-1 |
|---|---|
| Seitenzahl | 306 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 7371 Kbytes |