Vogt, Thomas (Hrsg.)
Dahmen, Wolfgang (Hrsg.)
Binev, Peter G. (Hrsg.)
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-1-4614-2191-7 |
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Seitenzahl | 182 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 6490 Kbytes |