Interfacial Compatibility in Microelectronics
Moving Away from the Trial and Error Approach
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4471-2470-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 218 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 6921 Kbytes |