Dietrich, Manfred (Hrsg.)
Haase, Joachim (Hrsg.)
Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-1-4419-6621-6 |
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Seitenzahl | 252 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 5632 Kbytes |