Bhushan, Manjul (Autor)
Ketchen, Mark B. (Autor)
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4419-9377-9 |
|---|---|
| Seitenzahl | 373 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 10152 Kbytes |