Liu, Johan (Autor)
Salmela, Olli (Autor)
Sarkka, Jussi (Autor)
Morris, James E. (Autor)
Tegehall, Per-Erik (Autor)
Andersson, Cristina (Autor)
Reliability of Microtechnology
Interconnects, Devices and Systems
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4419-5760-3 |
|---|---|
| Seitenzahl | 204 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 3993 Kbytes |