Walkosz, Weronika (Autor)
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si?N? Interfaces
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4419-7817-2 |
|---|---|
| Seitenzahl | 110 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 3767 Kbytes |