Sun, Yongke (Autor)
Thompson, Scott E. (Autor)
Nishida, Toshikazu (Autor)
Strain Effect in Semiconductors
Theory and Device Applications
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4419-0552-9 |
|---|---|
| Seitenzahl | 350 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 9083 Kbytes |