Bosio, Alberto (Autor)
Dilillo, Luigi (Autor)
Girard, Patrick (Autor)
Pravossoudovitch, Serge (Autor)
Virazel, Arnaud (Autor)
Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Beschreibung
Produktdetails
ISBN/GTIN | 978-1-4419-0938-1 |
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Seitenzahl | 171 S. |
Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
Dateigröße | 5403 Kbytes |