Kaupp, Gerd (Autor)
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-540-28472-7 |
|---|---|
| Seitenzahl | 292 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 23698 Kbytes |