Rein, Stefan (Autor)
Lifetime Spectroscopy
A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-3-540-27922-8 |
|---|---|
| Seitenzahl | 492 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 8462 Kbytes |