Gusev, Evgeni (Hrsg.)
Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks
Nano-Electronic Semiconductor Devices
Beschreibung
Produktdetails
| ISBN/GTIN | 978-1-4020-4367-3 |
|---|---|
| Seitenzahl | 492 S. |
| Kopierschutz | mit Wasserzeichen |
| Dateigröße | 40042 Kbytes |